RM3545可用于线圈或线路电阻、高电阻测量，测量源最大DC 1A，最快测量速度为2.2ms，最高精度为0.01 μΩ，支持20处多点测量。（最新升级款机型为RM3545A）

RM3545A最新配备1000 µΩ 量程，最小分辨率 1 nΩ。基本精度0.006%，最大测量电流1A。

MICROTEST 6632(S)系列阻抗分析仪提供10Hz-50MHz宽频率范围测量元件/材料阻抗特性，测量参数包括|Z|(阻抗)、|Y|(导纳)、θ(相位角)、X(电抗)、R(串并联电阻)、G(电导)、B(电纳)、L(电感)、D(损耗因数)、Q(品质因数)、DCR(直流电阻)、C(电容)、ESR(等效串联电阻)、ε(相对介电常数)、μr(相对导磁系数)，支持Meter模式和扫描分析模式。

MICROTEST 6621系列LCR测试仪提供10Hz～30MHz宽频率范围测量元件/材料阻抗特性，测量参数包括|Z|(阻抗)、|Y|(导纳)、θ(相位角)、X(电抗)、R(串并联电阻)、G(电导)、B(电纳)、L(电感)、D(损耗因数)、Q(品质因数)、DCR(直流电阻)、C(电容)、ESR(等效串联电阻)。