ET35系列LCR数字电桥是采用自动平衡电桥原理设计的高精度元件参数分析仪，其10Hz~1MHz的测试带宽、频率连续可调、0.05%的基本测量精度以及仪器所提供的自动电平控制功能、列表扫描和档计数功能为绝大多数元器件和材料提供准确、完整的测量与分析，广泛适用于产品研发、元器件入厂检验、产品在线分检等应用场合。

20 Hz 至 2 MHz，为广泛的组件测量提供精度、速度和多功能性的最佳组合。

20 Hz 至 300 kHz / 500 kHz / 1 MHz，通过可用的频率选择获得准确性、速度和多功能性的组合。

MICROTEST 6621系列LCR测试仪提供10Hz～30MHz宽频率范围测量元件/材料阻抗特性，测量参数包括|Z|(阻抗)、|Y|(导纳)、θ(相位角)、X(电抗)、R(串并联电阻)、G(电导)、B(电纳)、L(电感)、D(损耗因数)、Q(品质因数)、DCR(直流电阻)、C(电容)、ESR(等效串联电阻)。