PID测试潜在电势诱导衰减,组件长期在高电压工作,在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池片表面的钝化效果恶化,导致填充因子、短路电流、开路电压降低,使组件性能低于设计标准;PID测试目的是为验证组件经受高强度电压性能变化的能力。铭电推出的PID测试系统满足标准IEC61215-2 MQT21,简洁、高效、使用便捷灵活,极大地方便用户进行PID的测试实验。
更新时间:2024-09-11
厂商性质:生产厂家
产品型号:TSD-PID-P4
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