PID测试潜在电势诱导衰减，组件长期在高电压工作，在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池片表面的钝化效果恶化，导致填充因子、短路电流、开路电压降低，使组件性能低于设计标准；PID测试目的是为验证组件经受高强度电压性能变化的能力。铭电推出的PID测试系统满足标准IEC61215-2 MQT21，简洁、高效、使用便捷灵活，极大地方便用户进行PID的测试实验。